このプロンプトは、半導体製造プロセスにおける品質管理方法を詳細に記述し、過去のデータを分析して主要な品質問題とその原因を明らかにすることを目指しています。これに基づき、実現可能な改善策を提案し、その効果を測定する指標を設けることを通じて、品質管理の最適化を図ります。レポートでは、技術的な専門用語を用い、チャートやグラフを利用して情報を視覚化します。